Descrição
Dados de microscopia de varredura por sonda e perfilometria podem ser inspecionados, processados, medidos e visualizados em uma aplicação científica dedicada.
É útil para fluxos com AFM, STM, MFM, SNOM/NSOM, perfis de superfície e análise geral de dados 2D. Os resultados dependem de formatos corretos, calibração, escolhas de pré-processamento e interpretação científica, então mantenha os dados brutos e documente as etapas aplicadas.